產品介紹
產品概述:
原子力顯微鏡WY-6800AFM是WY-6600AFM的升級,增加了針對標記區域掃描提供準確的定位系統及磁力模塊,因而掃描范圍更廣,定位更精確。
原子力顯微鏡WY-6800AFM主要功能特點:
硬件系統
1、光機電一體化設計,外形結構簡單;
2、掃描探頭和樣品臺集成一體,抗干擾能力強;
3、精密激光檢測及探針定位裝置,光斑調節簡單,操作方便;
4、采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;
5、伺服馬達手動或自動脈沖控制,驅動樣品垂直接近探針,實現掃描區域精確定位;
6、高精度大范圍的樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區域;
7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據不同精度和掃描范圍要求選擇;
8、帶光學定位的CCD觀測系統,實時觀測與定位探針掃描樣品區域;
9、采用伺服馬達控制CCD自動對焦功能;
10、模塊化的電子控制系統設計,便于電路的持續改進與維護;
11、集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統使用。
軟件系統
1、可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像;
2、具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式;
3、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512;
4、多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖;
5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS(f-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能;
6、可進行掃描區域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區域;
7、可任意選擇樣品起始掃描角度;
8、激光光斑檢測系統的實時調整功能;
9、針尖共振峰自動和手動搜索功能;
10、可任意定義掃描圖像的色板功能;
11、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能;
12、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正;
13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
規格參數:
序號 | 名 稱 | 參 數 |
01 | 工作模式 | 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力 |
02 | 樣品尺寸 | Φ≤90mm;H≤20mm |
03 | 最大掃描范圍 | 橫向50um,縱向5um |
04 | 掃描分辨率 | 橫向0.2nm,縱向0.05nm |
05 | 掃描速率 | 0.6Hz~4.34Hz |
06 | 掃描控制 | XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A |
07 | 數據采樣 | 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣 |
08 | 掃描角度 | 任意 |
09 | 樣品移動范圍 | 0~20mm |
10 | 馬達趨近脈沖寬度 | 10±2ms |
11 | 光學放大倍數 | 10X |
12 | 光學分辨率 | 1um |
13 | 圖像采樣點 | 256×256,512×512 |
14 | 反饋方式 | DSP數字反饋 |
15 | 反饋采樣速率 | 64.0KHz |
16 | 計算機接口 | USB2.0 |
17 | 運行環境 | 運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統 |
18 | 儀器重量體積 | 40KG,700*480*450mm |
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